ABex System Architecture

Die ABex Erweiterung ermöglicht eine vollständig drahtlose Verteilung von analogen und digitalen Mess- und Leistungssignalen im gesamten System. Signale werden über definierte Busse mit stabilen Impedanzen geleitet und werden in Gruppen auf der Backplane (analog, digital, power) organisiert. Es müssen keine Kabel verwendet werden, um das DUT mit den Schaltmatrizen an die erforderlichen PXI-Messgeräte anzuschließen.

Das System kann mit einer speziellen DUT-Schnittstelle ausgerüstet werden, basierend auf der hochwertigen Virginia Panel-Technologie. Die Schnittstelle garantiert 20.000 Steckzyklen.

Softwareplattform

KT-Software-Lösungen beschleunigen Ihre Produktivität durch anpassbare grafische Benutzeroberflächen mit inhärenter unsichtbarer Parallelität.

Highlights

  • Die modulare Architektur der Software ermöglicht eine Anpassung an Ihre Bedürfnisse, von einem manuellen Arbeitsplatz bis hin zu einem integrierten End-Of-Line Testsystem
  • Hohe Anzahl unterstützter Messgeräte und ABex / PXI-Karten
  • Klare Trennung zwischen Treiberschicht und Testsoftware, um einen einfachen Hardwareaustausch zu ermöglichen,
  • Integration von National Instruments Software-Module um ein komplettes Software-Paket zu erhalten
  • Datenbank-Manager und statistische Ergebnis Analyse-Tools für die schnelle Analyse und sichere Datenspeicherung
  • Konrad ICT Software Framework um die flexiblen und erweiterbaren Konrad ABex und PXI-Produkte zu verwenden
  • Neue ICT-IDE zum Entwickeln, Debug und Ausführen von In-Circuit-Tests
  • Optionale automatische Programmgenerierung

Da mehr und mehr Produkte in kurzer Zeit getestet werden, sind unsere Datenbankverwaltung und statistische Ergebnisanalyse-Tools die ideale Wahl für den sichere Datenspeicherung und schnelle Datenanalyse. Dies ermöglicht es, schnell zu erkennen, wenn die Produktqualität im Laufe der Zeit abnimmt, oder bestimmte Teile sich verschlechtern.

Anwendungen

  • Funktionstest
  • In-Circuit Test
  • Halbleitertest

Branchen

  • Automobilindustrie
  • Luft- und Raumfahrt
  • Verteidigung
  • Telekommunikation
  • Medizin
  • Elektronik-Herstellung
  • Unterhaltungselektronik

Unterstützte PXI Instrumente

Beschleunigen Sie die Produktivität, Entwicklung, Durchsatz und Time-to-Market

Konrad Technologies bietet Terminalmodule für viele Standard-PXI-Instrumente von führenden Herstellern wie National Instruments (NI), Göpel, JTAG Technologies, Pickering und anderen. Mit diesen Instrumenten können Nutzer der ABex Plattform für nahezu alle Testanwendungen individuelle Testlösungen erstellen.

Die unterstützten PXI Instrumente umfassen:

  • KT PXI-501 Multifunktions-und In-Circuit-Test Instrument
  • Digitale Multimeter von NI
  • Oszilloskope von NI
  • Signalgeneratoren von NI
  • Multifunktions-Datenerfassungskarten von NI
  • Digital-I/O-Karten
  • Relais-Schaltmatrizen
  • High Density Schaltmatrizen von Konrad und NI
  • Boundary-Scan-Test-Controller von Göpel und JTAG Technologies

Zusätzliche Terminalmodule können auf Anfrage von Konrad Technologies entwickelt werden. Für die Mitglieder der ABex Systems Alliance bieten wir auch ein Modul Development Kit (MDK).

Rear Module

Alle Steckplätze der ABex Backplane können von der Rückseite, unter Verwendung von spezifischen Rear-Modulen, zugegriffen werden. Dies ist besonders nützlich für die Integration von nicht-PXI Instrumenten, wie AC oder DC-Quellen, und auch um die Fehlersuche zu vereinfachen. Während das DUT gespeist wird, kann seine Stromaufnahme an dem jeweiligen Rear-Modul, über integrierte präzise Shunts, gemessen werden.

Software Support

Für die Konfiguration eines ABex System erhalten die Anwender zusätzlich zu den Treibern für jedes Instrument auch graphische Konfigurationswerkzeuge für die Terminalblöcke. Die Systemprogrammierung kann mit höheren Programmiersprachen erfolgen, einschließlich NI LabVIEW, NI LabWindows/CVI, NI TestStand, C # und C ++.

Das ABex System ist vollständig mit der PXI-Spezifikation kompatibel und kann mit Standard-Chassis ausgerüstet werden, z.B. National Instruments PXI-1045 18-Slot-Chassis.

 

Vorteile

  • Zuverlässige Verbindungen zwischen DUT und PXI-Messgeräten
  • Einfache Erweiterung mit Schaltmatrizen
  • Flexible Verteilung von Versorgungssignalen
  • Kurze Aufbau- und Inbetriebnahmezeiten
  • Höhere Signalqualität
  • Praktische DUT-Schnittstelle zum Testadapter, basierend auf Virginia Panel-Technologie
  • Selbsttest unterstützt
  • Benutzerdefinierte Funktionalität auf dem Terminalmodul
  • Einfache Integration von externen AC oder DC-Quellen
  • Dynamische Strommessungen
  • Skalierbarkeit des gesamten Systems
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