Fine-Pitch Kontaktierstation MCS-500

Die Konrad-Fine-Pitch Kontaktierstation MCS-500 ist ein State-of-the-Art-Lösung zum Testen von Leiterplatten und Keramikstrukturen, mit hoher Geschwindigkeit und mit hoher Genauigkeit. Dieses System ist die Antwort auf die heutigen Herausforderungen in der Prüftechnik. Es kombiniert einen starren Nadeladapter mit einem Vision-Inspektionssystem und Mehrachsen-Bewegungssteuerungssystem für eine prozesssichere Mikro Ausrichtung der zu prüfenden Geräte.

Vorteile

  • Vision-geführte Nadel Ausrichtung
  • Flexible und modulare Testplattform
  • Automatisierte parallele Prüfung
  • 500 Testpunkte
  • Multi Level Kontakt von der Ober- und Unterseite
  • Mindestgröße Test-Pad 150 um
  • 10um Genauigkeit, 1um Auflösung
  • Prozesssichere Kontaktierung von kleinen Test-Pads
  • Einsatz auf Leiterplatten und LTCC-Strukturen
  • Verwendbar mit Flex PCBs
  • Kontaktierung von Mini-Anschlüsse

Alignment System

  • Echtzeit-Bewegungssteuerungssystem mit drei Achsen
  • X-Y- φ Positionierung
  • Programmierbare Trajektorien
  • Einstellbare Nadel Kraft
  • Integriertes Bildverarbeitungssystem für die Closed-Loop-Positionierung
  • Vision-System auf Basis von LabVIEW / IMAQVision
  • Kamera mit telezentrischem Objektiv
  • Präzise Algorithmen für die Kameralinsen-Kalibrierung
  • LED-Beleuchtung; über Spiegel
  • Integriertes DUT-Markierungssystem (PASS, FAIL) pro DUT oder pro Leiterplatte
  • Automation PC, Embedded Windows XP

Anwendungen

  • Leiterplattentest
  • Funktionstest
  • In-Circuit Test
  • In-System Programmierung
  • Stand-alone oder Inline Verwendung

Technische Daten

  • Minimale Test-Pad Größe: 150um
  • Fine Pitch minimal: 200um
  • Kontakt-Wiederholbarkeit: <10um
  • Theoretische Auflösung Positionierungssystem: <1um
  • Anzahl der Kontaktnadeln: 300 pro Seite
  • Leiterplatten-Größe: 220mm x 300mm
  • Automatischer Leiterplatten-Einzug
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