Halbleiter Testsystem Plattform
Dieses System ist ein leistungsstarkes "Zero-Footprint" Mixed-Signal-Testsystem der neuesten Generation für alle Arten von analogen und digitalen Bauteilen und Schaltungen. Das System kann auf Basis von Standard-Technologien aufgrund seiner offenen Architektur in Bezug auf Leistung und Technologie auf den jeweiligen Anwendungsfall angepasst werden, darunter PXI und rekonfigurierbare FPGA-basierte Instrumente.
Das Testsystem unterstützt den Anwender über den gesamten Lebenszyklus von Mixed-Signal-Baugruppen, von der Validierung der ersten Muster auf Wafern mittels Charakterisierungs- und Kleinserien-Produktionstests, bis zur Serienproduktion der ICs.
Vorteil
- Rekonfigurierbare ABex Plattform
- Zero footprint
- FPGA-basierte Instrumente
- Universale Pin-Elektronik
- Erweiterbar durch PXI Instrumente
- Kundenspezifische Schnittstelle
- Erster Silizium-Test
- Bauteil-Verifikation
- Multi- Site Produktionstest
- ReACT Use-Case Test
- Digitale Bauteile mit mittlerer Pinanzahl
- Analoge Bauteile
- Mixed-Signal Bauteile
- Smart Cards, RFID...
- MEMS
Konrad FINN Mixed Signal TestSystem Presentation
Systemarchitekturen
Alle Instrumente sind in einem ABex Chassis integriert – bietet eine Systemerweiterung mit Analog- und Power-Bus und benutzerdefiniertem Front-End für die synthetischen Instrumente auf FPGA-Basis. Diese Instrumente enthalten flexible FPGA-Boards (FlexRIO) unter Verwendung von elementaren I/Os und können mithilfe von benutzerdefinierten IP-Cores neu konfiguriert werden, abhängig von den Anwendungsanforderungen. Terminal Module vor den Instrumenten werden für die physikalische Anpassung verwendet.
Anwendungsbereiche
- Voller Lifecycle Support
- Erster Silizium-Test
- Bauteil-Verifikation
- Multi-Site Produktionstest
DUT-Schnittstelle
Eine dauerhafte und vielseitige uns Massenproduktionstaugliche DUT-Schnittstelle wird mit dem System ausgeliefert. Die Anpassung der Prüflinge erfolgt durch Familyboards und aller gängigen Loadboards führender Hersteller.
Systemintegration
Als Standardlösung bieten wir eine direkte Integration in einen Manipulator von einem führenden Hersteller
Handler / Prober Support
Als integraler Bestandteil der kompletten Testlösung bieten wir nicht nur die Standard-Test-System Hard- und Software, sondern auch die Anpassungen an die Produktionsinfrastruktur. Alle typischen Waferprober und alle typischen Testhandler werden vom System unterstützt. Egal in welcher unternehmensweiten Infrastruktur das Testsystem integriert werden muss, mit unserem Know-how bieten wir die beste Anwendungsunterstützung.
Zeitbedarf
Das System erfüllt die hohen Echtzeitanforderungen in der Halbleiterprüfung in seiner Gesamtheit. Ein Echtzeit-Betriebssystem, sowie FPGA-basierte synthetischen Instrumente werden verwendet um eine deterministische Testausführung zu gewährleisten. Cluster von mehreren Instrumenten und Testsequenzen können ebenfalls realisiert werden. Das System unterstützt mehrere Synchronisations-Szenarien aller Instrumente und den vollen asynchronen Betrieb der Prüflinge.
Softwarearchitektur
Eine flexible und leistungsfähige Software-Architektur ist der Schlüssel zur Durchführung von Tests von einer Charakterisierung Umgebung zu einem Multi-Site-Bereich und parallelen Produktionstests. Einige der wichtigsten Software-Tools sind:
- Umfassende Charakterisierungs- und Debug-Tools
- Shmoo Tool
- STDF Testdatenausgabe
- Virtuelle Instrumente Panels
- Leistungsstarke Test-Sequencer
Instrumentierung
Die verwendeten Instrumente sind PXI-Module von National Instruments und anderen Herstellern, die von Terminalmodulen für den ABex Testkopf verlängert werden - die KT-TM-403 DIG50IO Universal-Pin Elektronik, die 20 volle bidirektionale Kanäle hat. Jeder Kanal dient entweder als Input oder Output- erfahren Sie mehr. Andere Instrumente sind DC-VIs mit ±100V, 100mA, ±30V, 100mA, Vier-Quadranten-Modus, Digitalisierer (14bit, 100MS/s oder 2GS/s), Signalgeneratoren (16Bit, 100MS/s oder 400MS/s) und viele andere.
