KT-7500 FINN Mixed-Signal Test System

Unser KT-7500 Mixed-Signal Testsystem stellt eine leistungsfähige Testergeneration der neusten Generation, für den Test von analogen und digitalen Bausteinen dar. Es verfolgt konsequent den Gedanken des "Zero Footprint" und kannn dank der offenen Architektur, basierend auf Standardtechnologien, wie PXI und rekonfigurierbaren Instrumenten bedarfsgerecht auf die jeweiligen Einsatzgebiete und hinsichtlich Performance und Technologie skaliert werden.

Das System unterstützt die Anwender über den gesamten Produktlebenszyklus von Mixed-Signal Bausteinen, vom der Validierung der ersten Bauteile auf Wafern über den Charakterisierungstest, den Produktionstest von gehäusten Bauteilen bis zur Serienproduktion der ICs.

DUT Interface / Load Boards

Das System ist mit einer langlebigen und vielseitigen Prüflingsschnittstelle ausgerüstet, die für die Massenproduktion ausgelegt ist. Die Adaption der Prüflinge erfolgt entweder über das FINN Loadboard mit Device-spezifischer Adaption, oder über den FINN Family-Board Adapter zur Weiterverwendung bereits existierender Loadboards anderer Testsystemhersteller.

Systemintegration

Wir erarbeiten individuelle Lösungen für ide Integration des Testsystems in Ihre Umgebung an. Als Beispiel sehen Sie nachfolgend den Einbau des Testers in einen Standard-Manipulator.

Handler / Prober Support

Wir bieten neben der Testsystem-Hardware und Software sämtliche Adaptierungen an. Alle gängigen Wafer-Prober sowie alle üblichen Bauteil-Handler werden durch das System unterstützt. Egal in welche firmenweite Infrastruktur ein Testsystem integriert werden soll, wir bieten Ihnen mit unserem reichhaltigen Erfahrungsschatz die beste Unterstützung an.

Echtzeitanforderungen

Die hohen Echtzeitanforderungen im Halbleitertest erfüllt das System in vollem Umfang. Zum Einsatz kommt ein Echtzeitbetriebssystem sowie FPGA-basierte, synthetische Instrumente zur Sicherstellung einer deterministischen Testausführung. Je nach Applikation können Cluster aus mehreren Instrumenten mit zugehörigen Testsequenzen realisiert werden. Das System unterstützt unterschiedliche Synchronisations-Szenarien der verschiedenen Instrumente bzw. den vollkommen asynchronen Betrieb der Testeinheiten.

Systemarchitektur

Die gesamten Instrumente sind in einem ABex-System integriert – einer PXI-Systemerweiterung mit Analogbus und Powerbus sowie Front-Ends für synthetische Instrumente auf FPGA-Basis. Diese Instrumente bestehen auf flexiblen FPGA-Karten mit elementaren I/O (FlexRIO) und der Möglichkeit der freien Programmierung. Die hardwareseitige Adaption wird auf den ABex Terminal Modulen vorgenommen.

ADAS Virtual Test Drive
Request a demo Learn more