Die maximale Testabdeckung kosteneffizient zu erreichen, ist das wichtigste Ziel in der Elektronikfertigung. Faktoren wie Produktionsvolumen, die Time-to-Market, Produktkomplexität, kombiniert mit technischen Fähigkeiten einschließlich Mixed-Signal-, HF-, digitalen Protokollen und mehr sind wichtig, wenn man die richtige Testplattform auswählt.

Das LEON-Gen-III-Testsystem ist so konzipiert, dass alle notwendigen Testtechnologien abhängig von den aktuellen Testanforderungen integriert werden können. Dazu gehören analoger In-Circuit-Test, Boundary-Scan-Test, Funktionstest, HF-Test, In-System-Programmierung und Vision-Inspektion. Das System kann leicht aktualisiert werden, wenn sich die Produkte ändern oder wenn die Produktions-Logistik verändert wird, z.B. von manuellen Tests zu einer Inline-Produktion aufgrund des erhöhten Herstellungsvolumens.

Vollständige Plattform für die Testsystem-Entwicklung

Von interaktiven Messungen mithilfe des universellen Instruments KT PXI-501, bis integrierte Testsysteme für die Funktionsprüfung mit, In-Circuit-Test, Boundary-Scan-Test, Vision-Inspektion, Test der Kommunikation in drahtlosen Anwendungen und Halbleiter-Test, bietet Konrad Technologies eine komplette Testplattform basierend auf Standardinstrumentierung aus Hard- und Software von führenden Unternehmen. Diese Standard-Produkte werden von KT-Hardware und Software-Tools ergänzt um hohe Leistung und Kosteneffizienz in jeder kundenspezifischen Testlösung zu gewährleisten.