LEON System Architecture

Intelligente Architektur und kostengünstige Konfigurationen

Die LEON-Gen-III-Testplattform ist rund um das KT PXI-501 Universal-Instrument gebaut, das als das Kernmodul des Systems arbeitet. Es vereint alle notwendigen Messfunktionen für Hochleistungs-PCB-Test auf einem einzigen PXI-Board. Als Ergänzung zu der KT PXI-501 mit den heute zur Verfügung stehenden 1500 PXI-Produkten auf dem Markt – entsteht ein leistungsstarkes und kostengünstiges Testsystem, das leicht konfiguriert werden kann für:

  • Manufacturing Defect Analysis (MDA)
  • Analoger In-circuit Test (ICT)
  • Digitaltest mittels Boundary Scan Technology
  • Vision-Test kombiniert mit elektrischem Bauteiltest
  • Funktionstest
  • PCB Test mit Microkontaktierung (10-micron Genauigkeit)

 

Maximale Testabdeckung

Die maximale Testabdeckung kosteneffizient zu erreichen, ist das wichtigste Ziel in der Elektronikfertigung. Faktoren wie Produktionsvolumen, die Time-to-Market, Produktkomplexität, kombiniert mit technischen Fähigkeiten einschließlich Mixed-Signal-, HF-, digitalen Protokollen und mehr sind wichtig, wenn man die richtige Testplattform auswählt.

Das LEON-Gen-III-Testsystem ist so konzipiert, dass alle notwendigen Testtechnologien abhängig von den aktuellen Testanforderungen integriert werden können. Dazu gehören analoger In-Circuit-Test, Boundary-Scan-Test, Funktionstest, HF-Test, In-System-Programmierung und Vision-Inspektion. Das System kann leicht aktualisiert werden, wenn sich die Produkte ändern oder wenn die Produktions-Logistik verändert wird, z.B. von manuellen Tests zu einer Inline-Produktion aufgrund des erhöhten Herstellungsvolumens.

Vollständige Plattform für die Testsystem-Entwicklung

Von interaktiven Messungen mithilfe des universellen Instruments KT PXI-501, bis integrierte Testsysteme für die Funktionsprüfung mit, In-Circuit-Test, Boundary-Scan-Test, Vision-Inspektion, Test der Kommunikation in drahtlosen Anwendungen und Halbleiter-Test, bietet Konrad Technologies eine komplette Testplattform basierend auf Standardinstrumentierung aus Hard- und Software von führenden Unternehmen. Diese Standard-Produkte werden von KT-Hardware und Software-Tools ergänzt um hohe Leistung und Kosteneffizienz in jeder kundenspezifischen Testlösung zu gewährleisten.

 

Höchste Flexibilität

Die LEON-Gen-III-Plattform ist die perfekte Wahl für High-Speed PCB Test mit mehreren Nutzen, bei denen parallele Testfähigkeiten erforderlich sind. Bis zu 16 eingebettete PCB Testmodule können in einem einzigen System völlig unabhängig voneinander arbeiten. Alle KT PXI-501 Embedded Single-Board-PCB-Tester fungieren als ein "Tester-on-the-Board", um maximale Geschwindigkeit und Flexibilität zu liefern.

Anwendungen

Die LEON-Gen-III-Testplattform ist rund um die KT PXI-501 gebaut - es vereint alle notwendigen Messfunktionen für Hochleistungs-PCB-Test auf einem einzigen PXI-Board. Es kann folgendermaßen konfiguriert werden:

  • Manufacturing Defect Analysis (MDA)
  • Analoger In-Circuit Test (ICT)
  • Funktionstest (FCT)
  • Digitaltest (mittels Boundary-Scan Technologie)
  • Vision-Test kombiniert mit elektrischem Bauteiltest
  • PCB Test mit Microkontaktierung (10-micron Genauigkeit)

Systemschnittstelle

Im Laufe der Jahre wurden von den großen Testequipment-Herstellern mehrere verschiedene Hardware-Schnittstellen entwickelt. Praktisch erstellte fast jeder Tester-Hersteller seine eigene Schnittstelle was viele unvereinbare Industriestandards zur Folge hatte.

Mit der LEON Gen III Plattform bieten wir viele Fixture-Optionen, einschließlich:

  • Virginia Panel basierte KT-DUT Schnittstelle
  • KT Pogo-Pin basierte Test Schnittstelle
  • Kompatibilität zu bestehenden Teradyne (GenRad) und Z18xx Testsystemen
  • Kompatibilität zu bestehenden Teradyne (GenRad) und Z18xx Testsystemen
  • Kombination mit Konrad Fine Pitch Kontaktiereinheit KT-MCS-500
  • Kabel-Schnittstelle
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