Funktionstest (FCT)
Hochleistungslösungen für Ihre Qualitätssicherung
Kernkompetenz von Konrad Technologies ist die Erstellung kundenspezifischer Testlösungen für die funktionelle Fertigung von Leiterplatten und Baugruppen. Die Anwendungen reichen von Automated Optical Inspection, ICT / FCT zu klassischen End-Of-Line-Test, auch Burn-In-Test und Dauertest, Fehlererkennung und anderen spezifischen Anwendungen.
Typische Funktionsprüfsysteme werden als Hybridsysteme implementiert. Durch unsere modularen, einfach zu wartenden und langlebigen Systeme ist es einfach, neue Technologien zum System hinzuzufügen, während Langlebigkeit und Skalierbarkeit gegeben sind.
Die Abstimmung der richtigen Software und der modularen Hardware ist der Schlüssel zum Aufbau erfolgreicher Testsysteme. Mit einer klar definierten modularen Architektur helfen unsere Testlösungen, neue Technologien mit der vorhandenen Hardware zu integrieren. So können Sie Systemkomponenten nach Bedarf aufrüsten, um Ihre Investition zu minimieren.
In den meisten Fällen nutzen wir PXI als Kerntechnologie und integrieren zusätzliche Instrumente, über die die bewährten GPIB- und LAN-Schnittstellen miteinander verbunden sind. Beispiele hierfür sind Stromversorgungen oder HF-Geräte im oberen Frequenzbereich.
Funktionsprüfsysteme werden oft mit In-Circuit-Test kombiniert, um eine hohe Leistung zu gewährleisten. Dieser Test empfiehlt sich insbesondere bei kleineren oder mittelgroßen Produkten mit hoher Komplexität. Die leistungsfähige Konrad LEON Testsystemfamilie basiert ebenfalls auf PXI und ist daher prädestiniert für eine solche Kombination.
Vorteile
- Simulation und Prüfung des DUTs auf Funktionalität/funktionaler Ebene
- Reduktion von Kosten und Zeit durch automatisierte Prüfabläufe
- Erhöhte Gesamtprüfung für die Qualitätssicherung
- Ausbaufähige und hohe Prüfgenauigkeit
- Einfache Selektion durch Pass/Fail Tests erhöht Übersicht und erlaubt (frühzeitige) Erkennung von Fehlerquellen Ursachen
- Verbesserte Rückverfolgbarkeit zwischen den Anforderungen, Testfällen und Potentiellen Fehlerursachen/quellen
- Vereinfachte Reproduzierbarkeit von Testabläufen
