In-Circuit Test

Kundenspezifische Montage-, Inspektions-und Test-Lösungen

Eine der Kernkompetenzen von Konrad Technologies ist die Erstellung von Testlösungen für Leiterplatten und Platinenbaugruppen. Um die höchstmögliche Testabdeckung zu erreichen, bieten wir unsere LEON-Serie von PXI-basierten In-Circuit-Testern in mehreren Konfigurationen an. Der Hauptvorteil der offenen Plattform ist, dass sie neben ICT auch mit anderen Testmethoden auf dem gleichen System kombiniert werden kann. Diese beinhalten

  • Funktionstest
  • Boundary Scan-Test
  • Vision Test
  • In-System-Programmierung

Aus Gründen der Effizienz ist der klassische In-Circuit-Test meist nicht mehr als einzige Prüfmethode anwendbar um eine ausreichende Testabdeckung sicherzustellen. Kombinationen mit anderen Testverfahren werden daher angewandt und erfordern eine flexible Testerarchitektur. Unsere Testplattformen bieten die notwendigen Voraussetzungen für die Kombination verschiedener Tests an der Fertigungslinie für eine erfolgreiche Produktionsmenge. Die Testplattform der nächsten Generation für PCB-Test LEON Gen III kombiniert klassische analoge In-Circuit-Tests (ICT) oder Manufacturing Defect Analysis (MDA) mit zusätzlichen Funktionstestmöglichkeiten auf einer einzigen Plattform. Mehrere Embedded Tester können in einem System für parallele Tests und einen hohen Durchsatz konfiguriert werden.

Das System ist für Geschwindigkeit, Leistung und echte parallele Testverarbeitung ausgelegt. Basierend auf dem PXI-Industriestandard kann er in viele verschiedene Testerkonfigurationen integriert werden - von kleinen Systemen bis zu Tausenden von Testpunkten. Die wichtigsten Zielgebiete sind:

  • Leiterplatten mittlerer bis hoher Komplexität - Hohe Pinzahl
  • PCB mit feiner Teilung - Niedrige Pinzahl
  • Manuelle Leiterplattenprüfstände
  • Inline-Prüfsysteme

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