Halbleiter-Testlösungen

Hochleistungs-Signalverarbeitung

Wir bieten Ihnen eine große Auswahl von Halbleiter-Test-Lösungen und Dienstleistungen an. Unsere Hardware- und Softwareentwickler entwickeln einzigartige, effiziente modulare Tester-Architekturen, die wesentlich zur Reduzierung Ihrer Herstellungskosten beitragen. Unsere Plattform für den Halbleitertest KT-7000 FINN basiert auf der gleichen Hard- und Software-Plattform wie die anderen bewährten Testsysteme von Konrad Technologies. Es ist daher einfach, Anforderungen für verschiedene Anwendungen wie Digital, Analog, Automotive, Mixed-Signal, SoC (System auf dem Chip), RF und MEMS (mikroelektromechanische Systeme) abzudecken.

Die flexible Architektur ermöglicht die einfache Implementierung von Testlösungen vom klassischen Muster digitaler Tests bis hin zu HF- und Analogtests sowie protokollbasierten Tests. Mit unserer Vielfalt an schlüsselfertigen Lösungen und Anwendungssupport bieten wir Ihnen den besten Weg, ihre Kosten drastisch zu senken und gleichzeitig die Testqualität, Effizienz und Performance beizubehalten.

Alles über KT-7000 FINN Test  

Vorteile

  • Hohe Leistung in einem kostengünstigen Produktionssystem
  • Verringerte Zeit zum Programmieren und Debuggen
  • Verbesserte Fehlerabdeckung
  • Hohe Paralleltestfähigkeit
  • Beschleunig des Silicium-Debugging
  • Verringerung der Systemebene
  • Flexibilität vom Engineering bis zur Fertigung
  • Skalierbares protokollfähiges Testsystem
  • Zero Footprint-System
  • Docking zu Wafer-Prober und Gerätehandler
  • Protocol Aware Test
  • Automatisierte Testplanerstellung

Testlösungen

FINN Halbleitertestsystem

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