Konrad Universal Test System
Das hier dargestellte Testsystem steht stellvertretend für zahlreiche, ähnlich realisierte Testlösungen von Konrad für den Baugruppentest in den Bereichen Automotive, Consumer Electronics, Medical und weiteren.
Zur Maximierung der Testabdeckung kommen unterschiedliche Testtechnologien zum Einsatz für den effizienten Baugruppentest.
Die Technologien umfassen:
- In-Circuit Test
- Funktionstest
- HF-Test
- Boundary Scan Test
- In-System Programmierung
- Vision
Die Messtechnik des Systems basiert weitestgehend auf PXI und es kommen Standardkarten von National Instruments, Konrad und anderen Herstellern zum Einsatz. Signalverschaltungen werden effizient und weitestgehend ohne interne Kabel mittels der PXI-Analogbuserweiterung ABex realisiert. Das ABex-System ist mit einer Virginia-Panel Schnittstelle für manuelle Testadapter ausgerüstet.
Haupteigenschaften
Instrumentierung im Einzelnen
Funktionstest
Zur Implementierung des Funktionstest kommen Instrumente von NI, Konrad und anderen Firmen zum Einsatz. Typische Messungen umfassen:
- Analoge Eingänge und Ausgänge - statisch und Waveform I/O
- Digitale I/O, High Speed Patterntest
- 6.5 Digit DMM
- Scopes
- Waveform Generatoren
- Switching
- Kommunikationsprotokolle, wie CAN, LIN, MOST, Flexray, etc.
- Kundenspezifische Schnittstellen und Protokolle
HF-Test
Test im HF-Bereich bis zu 70 GHz
- PXI-Instrumente bis 26.5 GHz
- HF Adapter von Konrad
- HF Inline Lösungen
- Automotive Radar Test
- Keyless Entry Test etc.
In-Circuit Test
Bis zu 2838 Testpunkte pro 19" Chassis:
- ICT System KT Leon Gen III
- "Embedded PCB Tester"
- Funktionstest direkt integriert
- Parallel Test
- Optimierte Switching-Lösungen
Boundary Scan Test
In ABex direkt integrierte Boundary-Scan-Lösungen von den beiden Marktführern.
- ABex-Terminalmodul für PXI-Controller
- Auf ABex Terminal Modul integrierte Test Access Ports
- Integration von Konrad ICT Funktionen in JTAG Testumgebungen
In-System Programmierung
Programmierung der Baugruppen mittels schnellen und industrietauglichen Geräten von SMH Technologies
- Gang Programmierung
- Multi-Site Flashing
- Extrem breite Unterstützung von Devices
- Neuentwicklung von Algorithmen nach Bedar
Vision Test
- Vision Bibliotheken für Oberflächeninspektion
- Displayinspektion
- Schrifterkennung
- Anwesenheitskontrolle
- Integration mit Motion Control
- Fine Pitch Inspektion
- Mikrokontaktierung
Testadapter
Die produktspezifischen Testadapter werden nach Kundenanforderungen realisiert, mögliche Konfigurationen umfassen manualle Handadapter, optional mit Inlay-Tauschplatten, Vakuumadapter, HF-Adapter. Sämtliche Adapter verfügen über eine Virginia Panel Adapterschnittstelle zum Testsystem.
Einspeisung
Der Universaltester wird mit dem Standard Einspeisungsmodul von Konrad ausgerüstet.
- Bereitstellung aller benötigten Versorgungsspannungen
- Notaus-Kreis
- Verzögertes Einschalten von PXI und Industrie-PC
Software
Das System wird mit der NI / Konrad-basierten Systemsoftware ausgerüstet, bestehend aus
- TestStand
- LabVIEW-basierte Testschritte
- Konrad Operator Interface
- Konrad KT-STAT Ergebnisdatenanalyse
- optionale Tools zur automatischen ICT Programmerstellung