Boundary Scan stellt eine wichtige komplementäre Testtechnologie zur Maximierung der Testabdeckung dar, da auf viele Vorrichtungen mit modernen Gehäusetypen, z.B. auf BGAs (Ball Grid Array) nicht mehr zugegriffen werden kann. Ebenso können reine digitale Geräte mit JTAG mit unserem analogen In-Circuit-Test / Manufacturing Defektanalysatoren der LEON-Serie getestet werden.
Boundary-Scan-Technologie kann auf den gesamten Produktlebenszyklus einschließlich Produktdesign, Prototyp-Debugging, Produktion und im Service angewendet werden. Somit lassen sich die Kosten der Boundary-Scan-Tools über den gesamten Produktlebenszyklus amortisieren, nicht nur die Produktionsphase, wodurch der Durchsatz maximiert wird.
JTAG Embedded Funktionstest
Embedded Boundary Scan und Funktionstest ermöglichen eine einfache Handhabung und niedrige Kosten des Boundary-Scans, mit der Abdeckung und Sicherheit der traditionellen Funktionsprüfung. Zudem wird eine erweiterte Fehlerabdeckung geboten, um die IKT-Prüfung weiter zu ergänzen oder zu ersetzen.
Vorteile