Boundary Scan

Testlösungen für maximale Fehlererkennung

Boundary Scan stellt eine wichtige komplementäre Testtechnologie zur Maximierung der Testabdeckung dar, da auf viele Vorrichtungen mit modernen Gehäusetypen, z.B. auf BGAs (Ball Grid Array) nicht mehr zugegriffen werden kann. Ebenso können reine digitale Geräte mit JTAG mit unserem analogen In-Circuit-Test / Manufacturing Defektanalysatoren der LEON-Serie getestet werden.

Boundary-Scan-Technologie kann auf den gesamten Produktlebenszyklus einschließlich Produktdesign, Prototyp-Debugging, Produktion und im Service angewendet werden. Somit lassen sich die Kosten der Boundary-Scan-Tools über den gesamten Produktlebenszyklus amortisieren, nicht nur die Produktionsphase, wodurch der Durchsatz maximiert wird.

Sparen Sie Zeit mit Boundary-Scan-Test-Lösungen

JTAG Embedded Funktionstest

Embedded Boundary Scan und Funktionstest ermöglichen eine einfache Handhabung und niedrige Kosten des Boundary-Scans, mit der Abdeckung und Sicherheit der traditionellen Funktionsprüfung. Zudem wird eine erweiterte Fehlerabdeckung geboten, um die IKT-Prüfung weiter zu ergänzen oder zu ersetzen.

Vorteile

  • Wiederverwendbare Testvektoren
  • Kostenreduzierung
  • Testzeitreduzierung
  • Verringerte Zeit bis zum Markteintritt
  • Reduzierte Design-Iterationen, da unsere Testlösungen auf Standard-Testplattformen von Konrad Technologies basieren, die einfach zu warten und zu aktualisieren sind
  • Die Diagnose von Strukturfehlern mittels eines Funktionstests ist im Vergleich zur Boundary-Scan-Technik kompliziert. Die Umstellung von ICT auf JTAG-Testsysteme reduziert die Testzeit erheblich.

Testlösungen

Lebensdauerprüfsystem - Funkschlüssel

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