Universal-Testsystem ICT - ISP - FKT
Für einen führenden Hersteller von Elektroinstallationstechnik und Gebäudeautomatisation wurde ein Universalsystem für den Test von unterschiedlichsten Produktfamilien implementiert. Dieses Testsystem ist in der Lage, einen kompletten In-Circuit-Test mit anschließendem Flashing und Prozessorprogrammierung sowie den vollständigen Funktionstest sämtlicher Prüflinge auf einem Tester durchzuführen. Zusätzlich werden die eingesetzten RGB-LED in Farbe und Helligkeit kalibriert.
Typische Produktfamilien sind Jalousieschalter, Dimmerbaugruppen, I2C-Baugruppen, verschiedene Displays und Uhrenbausteine.
Leistungen
- Test simuliert die tatsächliche Nutzung des Systems, dadurch Reduzierung von Kosten und Zeit
- Erhöhte Testabdeckung für eine höhere Qualitätssicherung
- Erweiterbar und hohe Testgenauigkeit
- Pass-/Fail-Unterscheidung auf den fertigen Leiterplatten, somit Verbesserung der Effizienz
- Verbesserte Rückverfolgbarkeit zwischen Anforderungen, Test Cases und Bugs
- Geringeres Risiko
- Erleichtert die Wiederverwendbarkeit von Tests
- Entwickelt für Geschwindigkeit und Leistung
- Spart Stellfläche in der Produktionsstätte
- Parallele Abarbeitung von Tests
- Integrierbar in viele verschiedene Testkonfigurationen, von kleinen Systemen bis hin zu Systemen mit Tausenden von Nordes pro System
- Geringe Durchlaufzeit
Vor allem bei dem Farbabgleich der eingesetzten RGB-LED Dioden wurde auf besondere Sorgfalt höchsten Wert gelegt. Hier wird jede mögliche Farbe aller Dioden vermessen und abgeglichen, so dass das menschliche Auge niemals einen Unterschied in Farbe und Helligkeit feststellen kann. Die Programmierung der verschiedenen Prozessoren erfolgt mit zum Teil unterschiedlichen Flash Programmiergeräten.
Haupteigenschaften
Das Testsystem basiert auf der PXI-Plattform, mit ABex® Systemerweiterung
Dabei kommen folgende Instrumente zum Einsatz:
- PXI-Funtionsgenerator National Instruments
- PXI-DMM 7.5 Digit National Instruments
- PXI-Scope National Instruments
- Uhrentakt 0,0075ppm genau
- KT-AM-301 172x4 Schaltmatrix
128 - 3000 x 4 Busse, nicht gemultiplext
Die Ansteuerung aller Software wird hier wieder über die graphische Programmiersprache NI LabVIEW realisiert. Das eingesetzte ABex®-System garantiert kürzeste Leitungsführung und ein frei konfigurierbares Zuschalten aller Geräte auf das integrierte Bussystem. Über die Codierung der eingesetzten Vakuumadapter wird das dazugehörige Prüfprogramm automatisch geladen und kann über die Konrad Oberfläche „KT-OP“ in der Produktion einfach bedient werden. Ein ausführlicher Selbsttestadapter gibt die notwendige Prüfsicherheit, dass die Anlage einwandfrei funktioniert. Darüber hinaus erfolgt eine Auswertung und Speicherung der Prüfergebnisse, ein Label Druck der Gutteile sowie eine Ablage nach Gut- oder Schlechtteilen.
In der SMD-Fertigung des Kunden können nun im Dreischichtbetrieb an diesem Testsystem mehr als 50 verschiedene Applikationen mit unterschiedlichen Prüfadaptern automatisiert geprüft werden.
Die Anlage ist wartungsfrei und kann ohne größeren Trainingsaufwand verwendet werden. Der Kunde kann auf einfache Art und Weise und ohne programmatische Anpassungen selbstständig neue Adapter integrieren, da immer wieder die gleiche Hardware in unterschiedlicher Konfiguration verwendet wird.
Durch die Vielzahl der verschiedenen Applikationen sind im Moment in der Produktion mehrere identische Universaltestsysteme im Einsatz. Alle Testsysteme können die ganze Produktpalette prüfen, da standarisiert und identisch aufgebaut. Alle Prüfprogramme, Parametersätze und Limits liegen zentral auf dem Netzwerk und können von allen Systemen genutzt werden ohne doppelte oder Dreifache Datenhaltung.
Software
- NI TestStand: Ablaufsteuerung, Editor, Debugger
- NI LabVIEW: Testschrittbibliotheken
- KT-OP: Bedienerinterface, Debugging
- KT-Project: ICT, Prozessorprogrammierung, Funktionstest, LED Farbüberprüfung / -kalibrieren
- KT-Stat: Ergebnisauswertung, Ermittlung Prozessfähigkeit
Hardware
- PXI Testsystem mit ABex (Analog Bus Extension for PXI)
- Kanäle: 128 - 3000 x 4 Busse, nicht gemultiplext
- Tests: R, L, C, Z, cont, Short, Funktionstest, Vision
- Instrumente: PXI Funktionsgenerator National Instruments, PXI DMM 7,5-stellig National Instruments, Referenztakt 0,0075ppm genau, PXI Oszilloskop National Instruments
- Adaptierung: Automatischer Adapter, Vakuumadapter
- Schnittstelle: Pylon