Konrad Aerospace HASS Testsystem

Zur Qualitätssicherung unter praxisnahen Bedingungen werden im Luft- und Raumfahrtumfeld so genannte „Stress Screening Tests“ durchgeführt. Die DUTs werden dabei Temperaturzyklen von -40°C bis +85°C und gleichzeitiger, mehrachsigen Erschütterungen ausgesetzt. Frühausfälle und Fertigungsfehler werden dadurch mit hoher Sicherheit erkannt.

Das High Accelerated Stress Screening Testsystem (HASS-Test) wurde als Standardlösung für den Aerospace-Bereich entwickelt und mit PXI-Instrumenten ausgerüstet. Dazu gehören ein 7,5-stelliges Multimeter, verschiedene digitale I/O Karten und Multiplexer, CAN-Schnittstellen sowie umfangreiche Optionen zur Prüflingsversorgung (DC und AC-Quellen für alle relevanten Luftfahrtspannungen).

Leistungen

  • Universaltestsystem – Unterstützt eine breite Palette von Technologien, die es leicht anpassbar macht spezifischen Kundenanforderungen gerecht zu werden
  • Reduziert Test- und Produkteinführungszeit, dadurch Reduzierung der Produktionskosten
  • Skalierbare und modular implementierte Testplattformen für einfache Wartung und Durchlaufausgleich
  • Flexibel auf viele Programmierkonfigurationen anwendbar
  •  Sehr zuverlässig – Funktionen sorgen für eine effiziente Datenintegrität ohne Unterbrechung des Prozesses und des Produktionsablaufs
  • Verbesserte Konfiguration der Fehlersimulation
  •  Besonderes Merkmal dieses Testsystems ist die Verifizierung mittels einer Datenbank für alle Testverfahren, dazu gehört auch die Querprüfung der Testadapter mit jedem DUT, alle relevanten Testsequenzen und Parameter

 

Kundenanforderungen

  • Ankopplung der Prüflinge über Wechseladapter
  • Aerospace Versorgungsspannungen 115V / 400Hz
  • Flexible Auf- und Umschaltung der DC und AC-Spannungen auf die Prüflinge (DUTs)
  • Stimulierung und Messung ausgewählter Signale zur Fehlererkennung mittels PXI-basiertem Testsystem (COTS-Gedanke)
  • Ansteuerung Klimakammer und Shaker (HASS-Kammer) in Abhängigkeit von Testsequenzen
  • Automatische Verifikation aller Soft- und Hardwareparameter (Rüstkontrolle)

Software

  • NI TestStand: Ablaufsteuerung, Editor, Debugger
  • NI LabVIEW: Testschrittbibliotheken
  • KT-Operator Interface: Bedienerinterface, Debugging
  • KT-Project: Testschrittbibliothek, Funktionstest
  • KT-Sequence Generator: Automatische Erzeugung von Testsequenzen aus Anforderungsprofil
  • KT-DEMA: Soft-Front Panels zur interaktiven Bedienung
  • KT-Klimakammer-Software, KT Environment-Server-Applikation.

Hardware

Folgende Hardware-Module gehören zum Standardumfang:

  • PXI-basierendes Testsystem mit ABex® Erweiterung
  • Industrie-PC als Systemcontroller mit MXI-Interface
  • PXI-Chassis 18 Slots NI PXI-1045
  • MXI-Express Schnittstelle
  • PXI-4071 7 ½ stelliges DMM
  • PXI-6528 48-Kanal Digital I/O
  • PXI-2527 32-Kanal Multiplexer
  • ME9000 achtfach RS-232 Karten
  • PXI-8464/2 zweifach CAN-Schnittstellen
  • AC und DC Powermultiplexer in separaten 19“ Einschüben, angesteuert über NI-6501 USB-Digital I/O Module 
  • California Instruments AC-Quelle Lx-Serie, 115V, 400 Hz, 4500 VA, dreiphasig
  • Agilent N5746A, 0…40V, 19A, 760W
  • Agilent N6700 zweikanalig mit je 35V, 3A, 100W
  • USV
  • KT Energieversorgungseinheit

Als Schnittstelle kommt eine Virginia Panel Interface mit Wechseladaptern zum Einsatz. Diese Schnittstelle zeichnet sich durch extrem hohe Kontaktierzyklen aus – garantierte 20.000 Kontaktierungen ohne Austausch der Kontakte.

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