Zur Qualitätssicherung unter praxisnahen Bedingungen werden im Luft- und Raumfahrtumfeld so genannte „Stress Screening Tests“ durchgeführt. Die DUTs werden dabei Temperaturzyklen von -40°C bis +85°C und gleichzeitiger, mehrachsigen Erschütterungen ausgesetzt. Frühausfälle und Fertigungsfehler werden dadurch mit hoher Sicherheit erkannt.

Das High Accelerated Stress Screening Testsystem (HASS-Test) wurde als Standardlösung für den Aerospace-Bereich entwickelt und mit PXI-Instrumenten ausgerüstet. Dazu gehören ein 7,5-stelliges Multimeter, verschiedene digitale I/O Karten und Multiplexer, CAN-Schnittstellen sowie umfangreiche Optionen zur Prüflingsversorgung (DC und AC-Quellen für alle relevanten Luftfahrtspannungen).

Leistungen

• Universaltestsystem – Unterstützt eine breite Palette von Technologien, die es leicht anpassbar macht spezifischen Kundenanforderungen gerecht zu werden
• Reduziert Test- und Produkteinführungszeit, dadurch Reduzierung der Produktionskosten
• Skalierbare und modular implementierte Testplattformen für einfache Wartung und Durchlaufausgleich
• Flexibel auf viele Programmierkonfigurationen anwendbar
•  Sehr zuverlässig – Funktionen sorgen für eine effiziente Datenintegrität ohne Unterbrechung des Prozesses und des Produktionsablaufs
• Verbesserte Konfiguration der Fehlersimulation
•  Besonderes Merkmal dieses Testsystems ist die Verifizierung mittels einer Datenbank für alle Testverfahren, dazu gehört auch die Querprüfung der Testadapter mit jedem DUT, alle relevanten Testsequenzen und Parameter

Data Sheet