Zur Qualitätssicherung unter praxisnahen Bedingungen werden im Luft- und Raumfahrtumfeld so genannte „Stress Screening Tests“ durchgeführt. Die DUTs werden dabei Temperaturzyklen von -40°C bis +85°C und gleichzeitiger, mehrachsigen Erschütterungen ausgesetzt. Frühausfälle und Fertigungsfehler werden dadurch mit hoher Sicherheit erkannt.
Das High Accelerated Stress Screening Testsystem (HASS-Test) wurde als Standardlösung für den Aerospace-Bereich entwickelt und mit PXI-Instrumenten ausgerüstet. Dazu gehören ein 7,5-stelliges Multimeter, verschiedene digitale I/O Karten und Multiplexer, CAN-Schnittstellen sowie umfangreiche Optionen zur Prüflingsversorgung (DC und AC-Quellen für alle relevanten Luftfahrtspannungen).
Als Schnittstelle kommt eine Virginia Panel Interface mit Wechseladaptern zum Einsatz. Diese Schnittstelle zeichnet sich durch extrem hohe Kontaktierzyklen aus – garantierte 20.000 Kontaktierungen ohne Austausch der Kontakte.